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龙翔凤翥

金虫 (小有名气)

[求助] 请问纳米线用原子力显微镜怎么测,怎么制样啊?(越详细越好,谢谢) 已有4人参与

请问各位高手纳米线怎么用原子力显微镜测试形貌呢?应该选择什么模式测试?具体该怎么制样?我手里的纳米线样品是粉末状的
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wgang

铜虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

用AFM测纳米粉末也不难,主要是两点:

1. 样品的制备:最好是将粉末分散在易挥发的有机溶剂中,如乙醇。之后将溶液滴在硅片或者云母片的表面。晾干即可;

2. 扫描过程中应选择针尖样品作用力小的扫描模式,力大了容易推动纳米颗粒。传统的Contact模式接触力最大,Tapping模式小些,大概在几纳牛,需要调整好扫描参数。最理想的是Peakforce tapping模式,作用力可以小到几十皮牛,很容易得到好图。
14楼2014-02-13 18:00:34
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yuan999

专家顾问 (知名作家)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
看过一些文献上有测试纳米线的AFM的,应该采用的是非接触模式,特别是纳米线阵列
我~心~依~旧
2楼2013-12-17 08:49:48
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龙翔凤翥

金虫 (小有名气)

引用回帖:
2楼: Originally posted by yuan999 at 2013-12-17 08:49:48
看过一些文献上有测试纳米线的AFM的,应该采用的是非接触模式,特别是纳米线阵列

我的样品是粉末状的,我应该怎么制样呢?用原子力显微镜扫描纳米线对制样有什么讲究吗?
3楼2013-12-17 10:05:59
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偷懒的猫

金虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
把粉状的东西溶于乙醇中,滴到玻璃片上,形成一层膜,然后用轻敲模式测AFM。

[ 发自小木虫客户端 ]
4楼2013-12-17 12:22:49
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