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281996931

木虫 (小有名气)

[求助] 包覆有SiO2的磷光粉的TEM和XPS测试

请问:实验是在荧光粉表面包覆一层SiO2,要通过TEM和XPS证实确实包覆了,那样做测试的时候需要注意些什么?通过TEM和XPS能得到什么样的结果?
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gxytju2008

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颗粒有多大啊,TEM要求颗粒不能太大的,包覆厚度也不能特别厚,否则电子穿不过去,其他的没啥,和透射制样一样,超声滴在铜网上,XPS要层层打离子刻蚀的,如果膜很均匀是可以测出来,否则它只能得到宏观信号,试试再说吧,不一定能管用
2楼2013-11-26 10:28:31
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281996931

木虫 (小有名气)

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2楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-11-26 10:28:31
颗粒有多大啊,TEM要求颗粒不能太大的,包覆厚度也不能特别厚,否则电子穿不过去,其他的没啥,和透射制样一样,超声滴在铜网上,XPS要层层打离子刻蚀的,如果膜很均匀是可以测出来,否则它只能得到宏观信号,试试再 ...

颗粒um级别的,TEM的照片怎么样才能证明是包覆上去了,有什么现象啊?
3楼2013-11-26 10:59:54
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gxytju2008

专家顾问 (文坛精英)

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281996931: 金币+10, ★★★很有帮助 2013-11-26 13:52:49
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3楼: Originally posted by 281996931 at 2013-11-26 10:59:54
颗粒um级别的,TEM的照片怎么样才能证明是包覆上去了,有什么现象啊?...

微米难度比较大,纳米的更好做一点,就是看有没壳核的分界,更小颗粒可以做能谱成像,你这个可能成像不太行

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
4楼2013-11-26 11:36:53
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281996931

木虫 (小有名气)

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4楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-11-26 11:36:53
微米难度比较大,纳米的更好做一点,就是看有没壳核的分界,更小颗粒可以做能谱成像,你这个可能成像不太行
...

5楼2013-11-26 13:52:37
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