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关于库仑测厚仪测多层镍厚度问题
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我是做电镀的。经常使用库仑测厚仪测多层镍的厚度和电位差。但是目前遇到点问题。麻烦各位帮忙讨论下。 多层镍一般是在紫铜层或者铁基上施镀。所以测厚时，当半亮镍层的电位出现大幅度的上升（理论上紫铜基上的镍层，因为铜的电位比镍高）或下降（铁基上的镍层，铁的电位比镍低）时，判断为半亮镍层完全点电解。 现在我测量铁基上的多层镍，很正常。 但是测量铜基上的镍时，理论上应该时电位上升为终点，但现在有时会出现电位下降，而且测量点的镀层没有完全被溶解掉，只是露出铜层的一点。 理论上这点又不能算为终点的。 机器个人认为是没有问题的。 我想，关于镀层本身的结构是不是也有影响 ？ 那位熟悉，请帮忙给个解释。谢谢！ |
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