24小时热门版块排行榜

>论坛更新日志 (3971)
>虫友互识 (861)
>导师招生 (294)
>文献求助 (274)
>硕博家园 (138)
>考博 (115)
>公派出国 (109)
>博后之家 (91)
>论文投稿 (89)
>基金申请 (88)
>找工作 (82)
>休闲灌水 (82)
>考研 (75)
>论文道贺祈福 (71)
>教师之家 (62)
>招聘信息布告栏 (56)

返回列表

当前主题已经存档。

cpp93082

铜虫 (小有名气)

应助: 0 (幼儿园)
金币: 78.8
帖子: 69
在线: 10.7小时
虫号: 306679
注册: 2006-12-16
性别: MM
专业: 无机化学

[交流] 关于库仑测厚仪测多层镍厚度问题

我是做电镀的。经常使用库仑测厚仪测多层镍的厚度和电位差。但是目前遇到点问题。麻烦各位帮忙讨论下。
多层镍一般是在紫铜层或者铁基上施镀。所以测厚时，当半亮镍层的电位出现大幅度的上升（理论上紫铜基上的镍层，因为铜的电位比镍高）或下降（铁基上的镍层，铁的电位比镍低）时，判断为半亮镍层完全点电解。
现在我测量铁基上的多层镍，很正常。
但是测量铜基上的镍时，理论上应该时电位上升为终点，但现在有时会出现电位下降，而且测量点的镀层没有完全被溶解掉，只是露出铜层的一点。
理论上这点又不能算为终点的。
机器个人认为是没有问题的。
我想，关于镀层本身的结构是不是也有影响
？
那位熟悉，请帮忙给个解释。谢谢！

回复此楼