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材料领域比较常见的测试手段的总结
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材料和半导体，微电子领域比较常见的测试手段的总结，包括拉曼光谱，电子显微分析技术（SEM，TEM，），电子能谱（XPS，AES，UPS），电子顺磁共振EPR，和最基本的XRD。 不是一般教科书式的讲解原理之类的，这里面是很实用的总结和介绍以及各类直接的区别。对于科研在一线的虫虫们，随时拿来翻翻，会受益匪浅的哦。。。[ 来自小组 功能材料家园 ] |
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2013-11-14 22:56:00, 1.1 M
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