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求助,缺陷的电离能、激活能以及热退火激活能
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| 我做的是辐照半导体研究的,在注入退火实验中需要用到热退火激活能以及注入退火激活能(annealing activation energy)。但是在文献中发现缺陷的电离能(ionization energy)和缺陷的激活能(activation energy)是一个值,并且有的文献中说法是热激活能(thermal activation energy)。小的想请问下各位大神,这三个名词的物理意义是什么?它们之间有什么联系?和我做的热退火的激活能有什么关联?拜托了~ |
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