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方克明RTO 金属包埋切片微米- 纳米表征法
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现代先进材料与微米--纳米尺度密切相关，材料的性能与其微观结构有着极其重要的关系。透射电镜和高分辨电镜是研究材料微观结构最重要的仪器，但是用透射电镜和高分辨电镜研究材料微观结构时，首先必须从试样中切取电镜电子束可以穿透的纳米厚度的薄膜。从微观试样中切取纳米厚度的薄膜是材料研究领域的世界难题。 应用“RTO 金属包埋切片微米- 纳米表征法”可以从微米-纳米颗粒试样、纤维试样、多层膜或含有界面的试样中高质量地切取纳米厚度薄膜，获得薄膜过程中不接触高温，不接触酸碱，，必要时也可以不接触水或水溶液，因此不损伤试样的原组织。切取的薄膜完整性好，薄区大，制样成功率高。对发展先进材料有着重要的作用。 微米纳米颗粒表征研究实例 （TEM） （HREM） （SEM） ↓ ↓ ↓ 透射电镜 高分辨电镜 扫描电镜  SiO2微米颗粒（TEM）.png  被包覆的Al2O3微米颗粒（TEM）.png  超导丝横切面局部放大（SEM）.png  催化剂微米颗粒（SEM）.png  纳米碳管横切面 （HREM）.png  实心纳米碳纤维横切面 （HREM）.png |
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2楼2013-11-06 09:42:44
