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太阳草

木虫 (职业作家)

[求助] 非晶硅薄膜中氧的影响?如何检测氧与周围原子的键模式及含量

非晶硅,氧,检测
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太阳草

木虫 (职业作家)

引用回帖:
2楼: Originally posted by ssfantasy at 2013-10-28 08:35:42
a-Si薄膜应该可以采用SIMS测试O的含量吧,FTIR可以得到键模式,但是定量的貌似可以用峰面积来计算,但是好像不准。最近也在研究a-Si膜层。

谢谢啊!
你用应助贴,我就可以送你金币了
4楼2013-11-06 17:12:26
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ssfantasy

银虫 (正式写手)

chemlh: 欢迎积极交流 2013-11-16 17:10:54
a-Si薄膜应该可以采用SIMS测试O的含量吧,FTIR可以得到键模式,但是定量的貌似可以用峰面积来计算,但是好像不准。最近也在研究a-Si膜层。
挣点钱真不容易
2楼2013-10-28 08:35:42
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捐助贵宾 (正式写手)

【答案】应助回帖

★ ★ ★
太阳草: 金币+3, 谢谢啊 2013-11-06 17:11:15
含量用XPS计算峰面积,键结构FTIR寻找对应峰,对称、不对称、环状等等,有文献可寻
3楼2013-10-29 20:30:02
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ssfantasy

银虫 (正式写手)

引用回帖:
4楼: Originally posted by 太阳草 at 2013-11-06 17:12:26
谢谢啊!
你用应助贴,我就可以送你金币了...

哈哈,那就再来点吧

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挣点钱真不容易
5楼2013-11-06 19:11:48
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