2楼: Originally posted by Jackcd12 at 2013-09-01 13:03:22
M-S曲线是用于表征半导体类型，载流子浓度和平带电位的有效方法，既然是半导体，肯定不能由于金属和绝缘性很高的材料了。很多电化学工作站都有这一功能。参数设置：电位扫描范围：一般以开路电位左右0.5-0.8V的幅度 ...

4楼: Originally posted by gxytju2008 at 2013-09-01 14:06:13
压片，脱落肯定是不行的，具体咋做。。很难讲，每个人都不太一样的，不同体系也差的很多，总之要在电解液里稳定存在，另外少引入干扰物

5楼: Originally posted by Jackcd12 at 2013-09-01 14:17:48
你测试的样品是什么？如果是粉料，就比较麻烦，可以考虑采用物理溅射法或电泳方法沉积在导电性好的电极上，在热处理，沉积的膜不能太厚，也不能太薄，这种样品不太适合用电化学方法。更适合使用光照法测试。

2楼: Originally posted by Jackcd12 at 2013-09-01 13:03:22
M-S曲线是用于表征半导体类型，载流子浓度和平带电位的有效方法，既然是半导体，肯定不能由于金属和绝缘性很高的材料了。很多电化学工作站都有这一功能。参数设置：电位扫描范围：一般以开路电位左右0.5-0.8V的幅度 ...

5楼: Originally posted by Jackcd12 at 2013-09-01 14:17:48
你测试的样品是什么？如果是粉料，就比较麻烦，可以考虑采用物理溅射法或电泳方法沉积在导电性好的电极上，在热处理，沉积的膜不能太厚，也不能太薄，这种样品不太适合用电化学方法。更适合使用光照法测试。