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zchy

木虫 (正式写手)

[交流] XPS给出的浓度

讨论一下,通常XPS给出的原子浓度应该为表面的原子浓度,那么分析时采样点的不同会不会产生误差啊?再问,如果是多孔材料负载了某活性物质,XPS所测的元素浓度能否认为就是其表面元素的含量分布?
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clackman

金虫 (小有名气)

神虫


buffaloli(金币+1,VIP+0):谢谢应助!
XPS给的表面浓度,通常因为偏希等原因和提箱差别很大,同样和表面结构也息息相关,所以不均匀很正常,所以用元素mapping的方法通常比较好,纵向方面可以使用深度剖析
4楼2007-11-10 22:29:05
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chinagrass

铜虫 (初入文坛)


zchy(金币+1,VIP+0):谢谢您的参与
如果粉末样品不是大范围的不均匀,那么不会有可以监测到的误差。因为XPS的测量范围很大,比如有的设备是100微米宽,1毫米长。这一点跟电镜不同。

如果是多孔材料,一般来说测量前要研磨,否则效果不能反应材料本体的特点。因为XPS的测量深度为10NM以内,确切点,表面第一层原子贡献了大概30%的信号,越往里越弱。任何时候XPS都是测的表面。如果两个样品BET类似,则容易比较表面原子浓度,否则的话要看具体情况了。
2楼2007-11-08 00:52:21
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chinagrass

铜虫 (初入文坛)


rabbit7708(金币+1,VIP+0):多谢热心应助!:)
另,表面原子分布是表面测量范围内原子个数的比,是一种摩尔比。它能反应的是担载元素的分布,及各元素的化学态。
3楼2007-11-08 00:56:21
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bianjun2003

银虫 (小有名气)


nxl5096224(金币+1,VIP+0):多谢应助啦~
我也用XPS方法测试过样品表面元素的含量,计算结果和初始配方还是比较吻合的,建议采用这种方法表示表面元素的含量
5楼2007-11-13 16:02:11
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