| 查看: 230 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
wangdy107银虫 (小有名气)
|
[交流]
请教薄膜电学性能测试方面的问题
|
||
| 在做半导体薄膜电学性能测试时,hall效应测试仪的四个探针是否是直接与薄膜接触?如果不是,应该用什么办法解决探针与薄膜之间的接触问题?多谢同行的帮助! |
回复此楼» 猜你喜欢
拟解决的关键科学问题还要不要写
已经有8人回复
-
最失望的一年
已经有14人回复
-
求助一下有机合成大神
已经有3人回复
-
存款400万可以在学校里躺平吗
已经有30人回复
-
求推荐英文EI期刊
已经有5人回复
-
请教限项目规定
已经有4人回复
-
26申博
已经有3人回复
-
基金委咋了？2026年的指南还没有出来？
已经有10人回复
-
基金申报
已经有6人回复
-
疑惑？
已经有5人回复
chank
铁杆木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 11703.5
- 帖子: 525
- 在线: 86.1小时
- 虫号: 53776
- 注册: 2004-09-19
- 性别: GG
- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
2楼2007-10-23 09:06:12
wangdy107
银虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 1239.8
- 帖子: 120
- 在线: 21.6小时
- 虫号: 439181
- 注册: 2007-10-09
- 性别: GG
- 专业: 半导体材料
3楼2007-10-25 08:36:11