| 查看: 244 | 回复: 2 | |||
| 当前主题已经存档。 | |||
wangdy107银虫 (小有名气)
|
[交流]
请教薄膜电学性能测试方面的问题
|
||
| 在做半导体薄膜电学性能测试时,hall效应测试仪的四个探针是否是直接与薄膜接触?如果不是,应该用什么办法解决探针与薄膜之间的接触问题?多谢同行的帮助! |
回复此楼» 猜你喜欢
310求调剂
已经有14人回复
-
290调剂生物0860
已经有28人回复
-
山东双非院校考核超级无底线，领导幸灾乐祸，教师遭殃恐
已经有4人回复
-
279学硕食品专业求调剂院校
已经有14人回复
-
0831生医工第一轮调剂失败求助
已经有16人回复
-
电子信息270求调剂
已经有18人回复
-
食品与营养（0955）271求调剂
已经有5人回复
-
293求调剂
已经有11人回复
-
322求调剂
已经有13人回复
-
272分材料子求调剂
已经有50人回复
chank
铁杆木虫 (正式写手)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 11703.5
- 帖子: 525
- 在线: 86.1小时
- 虫号: 53776
- 注册: 2004-09-19
- 性别: GG
- 专业: 半导体晶体与薄膜材料
2楼2007-10-23 09:06:12
wangdy107
银虫 (小有名气)
- 应助: 0 (幼儿园)
- 金币: 1239.8
- 帖子: 120
- 在线: 21.6小时
- 虫号: 439181
- 注册: 2007-10-09
- 性别: GG
- 专业: 半导体材料
3楼2007-10-25 08:36:11
