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电子探针通过将电子束打到样品上，激发出特征X射线，将X射线谱仪（EDS 或者 WDS）设置在测量某一指定波长的位置（例如λNika Ni的Ka），使电子束沿样品上某条给定直线从左向右移动，同时用记录仪或显像管记录该元素在这条直线上的X射线强度变化曲线，也就是该元素的浓度变化曲线。 当特征能量ΔΕ的X射线光子由Si(Li)检测器收集时，在Si(Li)晶体内将激发出一定数目的电子—空穴对,假定产生一个空穴对的最低平均能量为ε（固定的），则由一个光子造成的空穴对数目为： N=ΔE/ε。加在Si(Li)晶体两端偏压来收集电子空穴对 → （前置放大器）转换成电流脉冲 → （主放大器）转换成电压脉冲 → （后进入）多通脉冲高度分析器，按高度把脉冲分类，并计数，从而描绘I－E图谱。 |
2楼2013-05-24 08:38:27
darrel
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- 专业: 金属材料的凝固与结晶学
3楼2013-05-24 17:40:42
4楼2013-05-27 20:23:23
...........................................................5楼2013-05-27 21:07:18
darrel
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6楼2013-05-28 23:56:31