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wcjhit

木虫 (正式写手)


[交流] 关于几何必需位错和统计存储位错密度的交流与讨论

看文献上说,几何必需位错是由分均匀变形引起的,其主要分布在晶界区域和受限制的边界区域,而统计存储位错主要分布在晶内。有一个问题就是如何计算几何必须位错密度和统计存储位错密度。是通过整个样品界面内几何必需位错和统计存储位错除以截面面积获得,还是通过几何必需位错除以晶界和受限制区域面积和统计存储位错除以晶内面积获得??还是???
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zhoulut

木虫 (初入文坛)



wcjhit(金币+1): 谢谢参与
理解几何必须位错和静态储存位错,有必要结合晶体的塑性变形。几何必须位错是由于晶体材料的塑性变形不均匀,为了保持变形的协调性而产生的。静态储存位错是由于各位错之间相互缠绕而产生。个人认为主要看他们在变形过程所起的作用,来决定是几何必须位错还是静态储存位错。
38楼2016-09-16 21:43:19
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xiedt

金虫 (著名写手)



wcjhit(金币+1): 谢谢参与
祝福,祝福,祝福,祝一切顺利,科研成果累累!
6楼2013-05-05 16:08:51
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简单回复
2013-05-06 00:23   回复  
wcjhit(金币+1): 谢谢参与
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