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peterh

捐助贵宾 (正式写手)

[交流] 求教半导体电导率测试

小虫有一有机膜需要测试电导率,但是在导电玻璃上,而该有机膜很薄且脆难剥落,不知道四探针法适合不适合这样的条件。
有文献报道高分子金属配合物薄膜可用原位电化学方法测试,但需要自行设计装置,小虫没这条件,
请教高人了,谢谢
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Iamcat

铁杆木虫 (著名写手)


子男(金币+1,VIP+0):谢谢帮助
不知道这样子行不行:你可以先在导电薄膜上面做上电极,这样就不怕搞坏薄膜而且又能测量你所需要的数据了。
若以色见我,以音声求我,是人行邪道,不能见如来
2楼2007-09-24 11:34:29
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goodenough

木虫 (正式写手)

可以在薄膜上镀一层金,这样就可以保护薄膜,而且可以有效降低薄膜与探针的接触电阻。
3楼2007-09-25 12:59:13
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xzxyry

捐助贵宾 (正式写手)

多谢楼上两位,昨天我用师弟的号发的.
我的意思是说四探针法测半导体可不可以在导电基底上进行.
如果能直接在导电基底上测试,实验室打算买一台.
我认为四探针法不能在导电基底上进行的.
4楼2007-09-25 15:49:18
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