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原子力显微镜针尖施加偏压之后会产生场致发射吗？ 已有1人参与
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原子力显微镜针尖施加偏压之后会产生场致发射吗？ AFM导电针尖曲率半径在50nm以内，在施加10v偏压，采用针尖接触方式对聚合物表面注入电荷， 在这个过程中针尖是否会会发生“场致发射”，带偏压的针尖与材料表面接触后，对应位置会留下电荷，这种电荷的注入的机制该用什么解释呢？我开始的想法是这个金属探针与电介质的接触适用肖特基效应，但是觉得也有可能存在纳米尺度针尖尖端的场致发射吧，想的有点迷糊，特向各位虫友请教。 另外想知道，施加偏压之后，AFM针尖附件的电场强度大约是多少啊？ 如何推算 [ Last edited by kunpeng1782 on 2013-4-14 at 16:18 ] |
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