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njulxl

铁虫 (初入文坛)

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虫号: 2007479
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专业: 凝聚态物性 II ：电子结构

[求助] 请教：观察铁电畴的方法

查阅文献发现，有些铁电材料如：PMN-PT会选择用偏光显微镜和TEM来看其铁电畴，这些方法与SPM相比有什么优缺点呢，求各位赐教！

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诚朴雄伟，励学敦行

1楼 2013-04-08 16:32:19

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njulxl

铁虫 (初入文坛)

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引用回帖:

4楼: Originally posted by chenbo2011 at 2013-04-08 22:18:18
TEM分辨率可达到1nm，但是对样品的要求很高，特别是薄膜TEM制样更困难。
SPM对一般的铁电薄膜都可以观察，分辨率在10nm左右。
偏光显微镜不了解，不过光学显微镜的极限分辨率只能达到几百纳米，应该观察不到精细的 ...

一直感觉TEM的制样对于样品的部分性质会产生影响，不知道对畴影响如何，分辨率确实是TEM给力