| 查看: 1684 | 回复: 1 | |||
[交流]
KFM测量原理
|
|||
| 请教大家一个问题，KFM得到的表面电势是探针的功函数与样品的功函数的差值。功函数与样品的表面电势有什么联系？那么这个功函数与什么有关呢？如果样品表面有注入的电荷，样品的功函数是否变化? |
回复此楼» 猜你喜欢
修改论文，如何借助其他力量？
已经有4人回复
-
中山大学潘越教授课题组2027级推免硕士研究生招生 新增一个专业医学技术名额
已经有21人回复
-
金属材料论文润色/翻译怎么收费?
已经有220人回复
» 本主题相关价值贴推荐，对您同样有帮助:
- 扫描探针显微镜怎么知道粗糙度啊
已经有6人回复
- 那位能提供开尔文测深管的相关制造工艺？重现昔日大师风采！
已经有7人回复
- 原子力显微镜中测量出的金属试样气相条件下的表面电势结果怎么讨论？
已经有5人回复
- AFM的电学性能测试
已经有16人回复
简单回复
haixiawu2楼
2013-03-19 02:40
回复
xingxingzi(金币+1): 谢谢参与
