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荧光介孔二氧化硅XRD，氮气吸附解析变化！！！急急急！！！！求助各位高人！！！
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| 荧光物质引入越多，应该说XRD的峰值强度会越来越低，但是我做的怎么越来越高，同时氮气吸附中显示的，引入的物质越少，比表面积，孔体积，孔径都是越来越少的。这是不是不对啊，不过我测试了好几遍了。会不会存在测试过程中，介孔二氧化硅重结晶现象，堵塞孔道什么的情况，如果有，那么需要多高温度才会出现这种现象呢。请各位高手帮忙分析解释，很急呐 |
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