| 查看: 608 | 回复: 0 | ||
[求助]
荧光介孔二氧化硅XRD，氮气吸附解析变化！！！急急急！！！！求助各位高人！！！
|
| 荧光物质引入越多，应该说XRD的峰值强度会越来越低，但是我做的怎么越来越高，同时氮气吸附中显示的，引入的物质越少，比表面积，孔体积，孔径都是越来越少的。这是不是不对啊，不过我测试了好几遍了。会不会存在测试过程中，介孔二氧化硅重结晶现象，堵塞孔道什么的情况，如果有，那么需要多高温度才会出现这种现象呢。请各位高手帮忙分析解释，很急呐 |
回复此楼» 猜你喜欢
40+中年人失业后，还能找到好工作吗？
已经有15人回复
-
二审4个多月了还是Awaiting Reviewer Scores
已经有5人回复
-
申请科研项目纯靠实力能成功吗？
已经有12人回复
-
用NBS溴化时溶剂除了CCl4外还有什么
已经有6人回复
-
极限拉扯，如何抉择
已经有15人回复
-
OpenAI又攻克数学难题了，离AI做有机合成还有多远？
已经有13人回复
-
课题组会帮你通过考核么？
已经有7人回复
-
招收博士生一名
已经有3人回复
找到一些相关的精华帖子，希望有用哦~
【求助】硅酸盐水玻璃凝胶后的二氧化硅XRD帮我解析
已经有6人回复
- 【求助】为什么介孔二氧化硅的XRD图没有出现明显的峰形
已经有3人回复
点击这里搜索更多相关资源科研从小木虫开始，人人为我，我为人人