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半导体的表面态密度怎么测定? 已有1人参与
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| 比如TiO2.说说怎么测的? |
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caoxiafei
专家顾问 (著名写手)
研发工程师-Topcon/HJT电池
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小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
蒋青松: 金币+1, 应助指数+1, 鼓励交流,回答很详细,非常感谢 2013-03-13 07:51:59
小木虫: 金币+0.5, 给个红包,谢谢回帖
蒋青松: 金币+1, 应助指数+1, 鼓励交流,回答很详细,非常感谢 2013-03-13 07:51:59
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什么是表面态? 百度上说:在半导体的表面,由于存在自身缺陷、吸附物质、氧化物或与电解液中的物质发生作用等原因,表面存在不饱和的共价键,表面电子之量子状态会形成分立的能级或很窄的能带,称为表面态。它可以俘获或释放载流子,或形成复合中心,使半导体带有表面电荷,影响其电性能。故半导体器件制作时需要超净处理,半导体电极的性质也比金属电极复杂。 按照该定义:只需要测定半导体表面的电子能级状态就可以了,XPS应该是一个非常好的表征方式。 |
2楼2013-03-12 17:01:27












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