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晶体结构的X射线粉末衍射法测定──纪念X射线发现100周年
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晶体结构的X射线粉末衍射法测定──纪念X射线发现100周年 作者：梁敬魁 院士 摘要： 晶体结构是了解固体材料性质的重要基础。广泛应用的测定晶体结构的有效方法是X射线单晶结构分析。然而许多固态材料不可能获得满足单晶结构分析所需的尺寸和质量，在这种情况下，实质上有关结构的信息是来自粉末衍射数据。文章综述了根据粉末衍射数据，应用单晶结构分析方法测定晶体结构的进展。同时着重讨论了粉末衍射重叠峰的分离方法。 |
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