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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 功能材料 » 测试表征 » 请问哪里能测GIXRD ?
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wangsheng7

金虫 (小有名气)

[求助] 请问哪里能测GIXRD ?

大家好！
我制备的薄膜厚度太小，普通XRD测出的基底峰太强，掩盖薄膜的峰。
谁知道除了同步辐射外，北京哪里还有GIXRD啊，掠入角能调到0.3°~0.5°的 ？
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1楼 2013-01-19 01:36:04
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紫星啸天

木虫 (正式写手)
你好，你的薄膜的基底是什么？在ITO玻璃上镀的膜能用来测GIXRD吗？
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3楼2015-03-26 15:11:01
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wangsheng7

金虫 (小有名气)
引用回帖:
3楼: Originally posted by 紫星啸天 at 2015-03-26 15:11:01
你好，你的薄膜的基底是什么？在ITO玻璃上镀的膜能用来测GIXRD吗？

啊，我测过了，用Si, ITO, Si/SiO2都试过。在清华测过普通的GIXRD，打0.5~1度的掠射可以消除基底影响，但是出峰信号不太强。在北京同步辐射那边，用Si/300nm 的SiO2衬底，可以完全避免衬底干扰，且获得较好看的信号；用ITO衬底的话，有时很好，但有时会测到ITO，可能和光源状态和探测器工作模式有关。
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4楼2015-03-27 08:32:41
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wangsheng7

金虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by feicici0920 at 2014-06-24 16:54:36
同求！！！

很多高校的XRD有小角掠射的配件，我在清华测过，但信号比同步辐射的差多了。
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5楼2015-03-27 08:33:44
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紫星啸天

木虫 (正式写手)
引用回帖:
4楼: Originally posted by wangsheng7 at 2015-03-27 08:32:41
啊，我测过了，用Si, ITO, Si/SiO2都试过。在清华测过普通的GIXRD，打0.5~1度的掠射可以消除基底影响，但是出峰信号不太强。在北京同步辐射那边，用Si/300nm 的SiO2衬底，可以完全避免衬底干扰，且获得较好看的信号 ...

好的，能否再透露下在清华测一个样多少钱？是在清华分析测试中心吗？非常感谢！
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6楼2015-03-27 16:43:12
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