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xihuashida9682

木虫 (著名写手)

[求助] 能谱分析一维材料mapping问题

文献中对一维材料的能谱分析mapping时各元素分布非常清楚,如附图所示。我们的能谱分析仪是Oxford instruments X-Max,请问该仪器能否做这样的mapping?如果能做,请问怎么实现?谢谢。

EDS mapping.jpg
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jdy_jing

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

感谢参与,应助指数 +1
设备上装有能谱仪就能做,可以线扫,面扫,这个是面扫的
2楼2012-11-22 16:06:46
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tidegoo

铜虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

选择这个区域做面扫就可以了啊
另外,一维是一个点么,二维是一个面吧
3楼2012-12-05 19:06:04
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xihuashida9682

木虫 (著名写手)

我所说的一维二维是材料本身。如一维纳米线,二维纳米片等。
4楼2012-12-05 22:30:44
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boluoyou

木虫 (小有名气)

【答案】应助回帖

这是能谱仪最基础的功能,肯定能做的。
用INCA的guide模式,左侧的导航栏每一步都写得很清楚。

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5楼2012-12-06 09:25:58
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xihuashida9682

木虫 (著名写手)

送鲜花一朵
引用回帖:
5楼: Originally posted by boluoyou at 2012-12-06 09:25:58
这是能谱仪最基础的功能,肯定能做的。
用INCA的guide模式,左侧的导航栏每一步都写得很清楚。

谢谢,回头试试。
6楼2012-12-06 21:52:16
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7楼2013-06-10 15:42:01
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