| 查看: 681 | 回复: 2 | |||
chayfei金虫 (正式写手)
|
[求助]
霍尔效应测试
|
| 在低阻Si片上制备得到了一层半导体纳米结构的薄膜，现在想测载流子浓度和迁移率，不知道怎么测，是直接测，还是测了之后要减去Si的数据来得到最终的数据，Si是否会对样品的迁移率和载流子浓度有影响？ |
回复此楼» 收录本帖的淘帖专辑推荐
 表征与测试分析 |
» 猜你喜欢
请问对标matlab的开源软件octave的网站https://octave.org为什么打不开？
已经有1人回复
-
求助两种BiOBr晶体的CIF文件（卡片号为JCPDS 09-0393与JCPDS 01-1004 ）
已经有0人回复
-
无机化学论文润色/翻译怎么收费?
已经有63人回复
-
哈尔滨工程大学材化学院国家级青年人才-26年硕士招生
已经有0人回复
-
求助Fe-TCPP、Zn-TCPP的CIF文件，或者CCDC号
已经有0人回复
-
河北大学-26年秋季入学申请考核制-化学博士1名
已经有0人回复
-
XPS/?λXPS
已经有0人回复
» 本主题相关商家推荐: (我也要在这里推广)
pll18
木虫 (小有名气)
- 应助: 2 (幼儿园)
- 金币: 2384.2
- 散金: 2
- 红花: 1
- 帖子: 185
- 在线: 116.4小时
- 虫号: 985237
- 注册: 2010-03-29
- 性别: MM
- 专业: 半导体材料
2楼2012-10-31 08:39:20
chayfei
金虫 (正式写手)
- 应助: 20 (小学生)
- 金币: 11413.5
- 散金: 1651
- 红花: 16
- 帖子: 422
- 在线: 625.7小时
- 虫号: 864806
- 注册: 2009-10-07
- 性别: GG
- 专业: 无机非金属类光电信息与功
3楼2012-10-31 12:05:44