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[求助]
关于 IPCE 能否代替 UV-vis
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求助各位： 小弟由于制备的半导体薄膜表面太平， 导致使用UV-vis 紫外可见测算带宽时信号峰全部都是噪音。用 IPCE 测的时候能够明显看到 薄膜样品对光的相应区域区域在哪里。 求教一下，我能否用 IPCE 所得到的对不同波长光 响应的图谱值 大致来说明我的样品的带宽呢？ 求高人指点~ |
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