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Kubelka-Munk Theory of Reflectance in DRS UV-Vis
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| 测半导体的能带宽度常用的方法就是固体粉末紫外可见漫反射（DRS UV-Vis），这段资料清晰了讲述了DRS UV-Vis测量带宽的理论基础Kubelka-Munk Theory，运用详细的叙述、示意图和公式推导让你一目了然。 |
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本内容由用户自主发布，如果其内容涉及到知识产权问题，其责任在于用户本人，如对版权有异议，请联系邮箱：xiaomuchong@tal.com - 附件 1 : Kubelka-Munk-Theory.pdf
2012-10-19 16:38:51, 136.68 K
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