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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 哪位大牛知道怎么测试氮化硅中的氮的含量
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livra1058

至尊木虫 (著名写手)
能谱多打几个点，取平均值，能大概算一下。
你也不能保证每个粉体的组成都严格一致吧。
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11楼2012-09-28 19:17:53
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cjzn2010

铁杆木虫 (正式写手)
引用回帖:
8楼: Originally posted by lawerence8162 at 2012-09-28 13:02:45
XPS只能做薄膜的的表层分析，做深度分析要肩薄，我这个事粉末样品，也不行的...

嗯，对的，这个给忽略了。轻元素还真不好吃，能谱可以测但是精度很不准。参考别人的了。同求大神。。
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现实逼迫的我们身不由己！！！学无止境！！！
12楼2012-09-28 22:14:14
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dodogougou

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

感谢参与，应助指数 +1
可以试试元素分析仪或者氧氮分析仪之类的。轻元素是能谱仪、XRF等仪器的软肋。元素分析仪是专门测CHNS/O的。为了让样品氧化/裂解更完全,可以在包样品时额外包入少量催化剂。如果N含量较低可适当加大上样量。

[ 发自手机版 http://muchong.com/3g ]
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13楼2012-09-28 23:46:38
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lawerence8162

新虫 (初入文坛)
引用回帖:
10楼: Originally posted by SCU_magiclee at 2012-09-28 17:20:54
你可以做GDMS或者SIMS。。看你的要求了，SIMS的检测限要低些，应该能达到ppb级

我这个是粉末样品，不能做GDMS和SIMS，而且GDMS测基底（matrix）元素很不准
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14楼2012-09-29 08:25:08
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SCU_magiclee

铁杆木虫 (正式写手)

硅材料研发人员

【答案】应助回帖

引用回帖:
14楼: Originally posted by lawerence8162 at 2012-09-29 08:25:08
我这个是粉末样品，不能做GDMS和SIMS，而且GDMS测基底（matrix）元素很不准...

这样说吧，我看了EAG（商业化的国际测试机构）的测试方案宣传，GDMS和SIMS应该是可以的。你所说的问题我觉得可能是参比样品和杂质分布均匀性带来的问题。我确定可以测粉体样（powder sample），因为N是轻元素，SIMS更好。EAG是很专业的，收费也不便宜。这里有测CdTe/CdS powder 的方案，你可以参考http://www.eaglabs.com/documents ... s-powders-AN454.pdf   SIMS可以测silicon powder里的N。。。我觉得也可以测你的样品。更多信息可以去EAG官网看，他们在上海有测试机构。http://www.eaglabs.com
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是金子总会发光！！！
15楼2012-09-29 09:29:27
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