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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 化学化工区 » 催化 » 表征 » 请教能级测定的问题
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jwelln

木虫 (正式写手)

[交流] 请教能级测定的问题

制备的样品经过紫外可见吸收光谱测试
发现在可见光区有较强的吸收
但这个吸收可以看到是一条倾斜的连续的线
而不是我们通常见到的在某个位置有一个吸收峰
我向请教的问题是：
1、这个吸收可能是什么引起的？
2、如何通过其他表征来搞清楚这个原因？
多谢大家！
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1楼 2007-06-12 19:10:25
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cccwater

金虫 (正式写手)
★ ★
linweiguo0(金币+2):谢谢应助 辛苦了 ！
1.通过紫外可见光谱只能得到带隙的宽度，不能得到绝对能级。
2.通常采用吸收边的方法，利用能量与波长的关系式E=hv求得。
3.倾斜的连续的线是半导体类材料常见的吸收方式，不知道你测的是哪种物质。
4.提供详细的背景资料才能解决问题。
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3楼2007-06-13 09:36:07
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allan_81105

木虫 (正式写手)
★ ★
linweiguo0(金币+2):谢谢应助 辛苦了 ！
能级测定?

是测吸收边吗?那应该测的是紫外可见漫反射光谱

我们实验室是测半导体的带隙能,就是通过测漫反射光谱再经过公式转换为吸收

你测的是固体样还是溶液样,如果是溶液可能是基线的问题或浓度过高
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2楼2007-06-12 21:56:59
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jwelln

木虫 (正式写手)
我测的样品是掺杂的二氧化钛
纯的二氧化钛一般在紫外区有一个很强的吸收
我现在相互要是想弄清楚在可见光区的吸收是什么原因引起的
多谢大家的解答！！
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4楼2007-06-13 14:45:31
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allan_81105

木虫 (正式写手)
★
nxl5096224(金币+1):呵呵，谢谢应助！3Q!
可能是由于掺杂使二氧化钛的吸收边红移,
但是从你提供的UV-Vis光谱中看不出明显的吸收边

带隙能Eg(eV)=1240/吸收边(nm)

你的样品做XRD了吗,二氧化钛的晶相是否有变化
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5楼2007-06-13 19:26:13
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