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lize886622银虫 (正式写手)
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LbL膜扫描电镜测试-急
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我利用LBL技术在石英上制备了纳米复合膜,怎样进行扫描电镜测试?膜镀在石英上可以测吗?怎么测?? 总结问题:膜的基材有要求吗?测试方法? |
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Jackcd12
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Jackcd12
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【答案】应助回帖
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lize886622: 金币+15, 非常详细 2012-09-23 21:21:30
lize886622: 金币+15, 非常详细 2012-09-23 21:21:30
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云母表面是分子级别的平坦,对观察纳米结构十分有利,而ITO表面要粗糙得多,但前者不导电,层与层间容易分开,后者导电,相当好操作。由于云母不导电,如果你的膜导电性足够好的话,SEM就可以不蒸金,但如果导电性不好的话,必须要蒸金,而金覆盖在你的纳米膜上,就可能掩盖你要观察的内容,如果你要观察的结构尺寸大于20-30nm的话,Au膜对你的观察不会产生明显影响,如果你关心的内容刚好也是10-20nm的话,蒸金就不是好的选择。 但你也要注意,使用ITO,作SME就不必蒸金,但TIO表面相当粗糙(0.5-2um),根据你的纳米结构,比如20-50 nm的粒子,在ITO上看出来的效果就不太好。 建议:同一样品分别在mica和TIO基板上各作一个,最后选效果好的。 |

7楼2012-09-22 00:27:13













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