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自放电,即可逆部分与不可逆部分容量损失[ Iwakura C, KajiyaY, Yoneyama H, Sakai T, Oguro K, Ishikawa H. J Electrochem Soc 1989;136:1351-1355. ]。可逆容量损失主要是由氢气从金属氢化物电极中的脱附引起;不可逆容量损失主要是由贮氢合金的退化所引起。并且普遍也都认为前者是引起自放电现象产生的主要原因[ C.S. Wang, M. Marrero-Cruz, J.H. Baricuatro, M.P. Soriaga, D. Serafini, S. Srinivasan. J Appl Electrochem 2003; 33: 325-331.]。 |
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