| 查看: 591 | 回复: 0 | ||
Duminshu金虫 (正式写手)
|
[求助]
在金属基体上沉积的氧化物薄膜，用UV-Vis漫反射谱和吸收谱测试薄膜的禁带宽度相关问题
|
|
1、背底选择什么？常用的BaSO4还是我们的金属基体？先放两个背底扫，然后测试时一个放背底，一个直接放我们的样品吗？ 2、仪器上放样品的地方，那个孔比我们的样品大，所以测试时把样品放在仪器配套的石英盒中，盒中多余的地方塞上白纸，然后把石英盒夹在仪器上测，这么做可以吗？ 3、要知道薄膜样品的禁带宽度，用反射谱还是吸收谱测得更准确？ 4、反射谱纵坐标%R是否不能大于100？吸收谱纵坐标Abs是否可以大于1？ 本人小白，恳请高人给予专业指导，感激不尽~ |
回复此楼» 猜你喜欢
基金中了
已经有12人回复
-
关于代码变化问题，想知道的进来
已经有9人回复
-
关于filecode
已经有6人回复
-
固定端突然变了，今天
已经有10人回复
-
听说今天filecode变了
已经有47人回复
-
filecode与中标关系的预测
已经有3人回复
-
filecode变化情况
已经有22人回复
-
十年后又回来了，论文投稿求助
已经有4人回复
-
大家散了吧，后缀研究没有意义，别浪费时间了，过好目前的每一天，不要焦虑
已经有7人回复
-
关于豆爷回答的JTJC与%2F数量
已经有6人回复
找到一些相关的精华帖子，希望有用哦~
对于发光半导体材料，激发光谱和UV-Vis吸收谱有什么异同？
已经有11人回复
- PL光致发光吸收谱和UV-vis吸收谱的区别
已经有10人回复
- 能不能用VARIAN CARY 50 UV-vis 分光光度计测漫反射吸收光谱
已经有9人回复
点击这里搜索更多相关资源科研从小木虫开始，人人为我，我为人人
100