| 查看: 559 | 回复: 0 | ||
Duminshu金虫 (正式写手)
|
[求助]
在金属基体上沉积的氧化物薄膜,用UV-Vis漫反射谱和吸收谱测试薄膜的禁带宽度相关问题
|
|
1、背底选择什么?常用的BaSO4还是我们的金属基体?先放两个背底扫,然后测试时一个放背底,一个直接放我们的样品吗? 2、仪器上放样品的地方,那个孔比我们的样品大,所以测试时把样品放在仪器配套的石英盒中,盒中多余的地方塞上白纸,然后把石英盒夹在仪器上测,这么做可以吗? 3、要知道薄膜样品的禁带宽度,用反射谱还是吸收谱测得更准确? 4、反射谱纵坐标%R是否不能大于100?吸收谱纵坐标Abs是否可以大于1? 本人小白,恳请高人给予专业指导,感激不尽~ |
» 猜你喜欢
为什么中国大学工科教授们水了那么多所谓的顶会顶刊,但还是做不出宇树机器人?
已经有9人回复
版面费该交吗
已经有9人回复
体制内长辈说体制内绝大部分一辈子在底层,如同你们一样大部分普通教师忙且收入低
已经有13人回复
面上可以超过30页吧?
已经有4人回复
“人文社科而论,许多学术研究还没有达到民国时期的水平”
已经有5人回复
什么是人一生最重要的?
已经有4人回复
找到一些相关的精华帖子,希望有用哦~
对于发光半导体材料,激发光谱和UV-Vis吸收谱有什么异同?
已经有11人回复
PL光致发光吸收谱和UV-vis吸收谱的区别
已经有10人回复
能不能用VARIAN CARY 50 UV-vis 分光光度计测漫反射吸收光谱
已经有9人回复
科研从小木虫开始,人人为我,我为人人













回复此楼
点击这里搜索更多相关资源