9楼: Originally posted by huxiang200 at 2012-08-31 15:30:23
AFM不是只能说明膜是否平坦，不能说明元素啊。我想知道的是上面的单分子是否发生了聚合。想用基团来分析，但是SEM倍数太高的话膜都被破坏了。我用CV测试过，做过SAM的和纯金的CV图是不一样的，那样的话是不是就可以 ...

11楼: Originally posted by qsywp at 2012-08-31 19:01:46
对于你的要求ATR应该无法满足，如果表面平滑，可以考虑用反射测试方法。事实上红外反射附件就是一个黄金镀膜片。巯基应该有足够峰强度。提高扫描次数，应该可以获得一定质量图谱。

12楼: Originally posted by mahengyi at 2012-09-01 11:06:24
那么薄的层，ATR测不出来的。
ATR最好的精度是用Ge做棱镜时，样品厚度可以测0.4微米，如果你自己没有设备，很可能条件不够，测不到这个精度。
1纳米，你看看差多少倍，所以根本就测不出来。

13楼: Originally posted by yql520 at 2012-09-01 15:07:57
如果膜足够薄，建议用EDS定性表征，然后看看表面增强拉曼光谱。红外真的不好说。...

17楼: Originally posted by qsywp at 2012-09-05 08:34:38
表面增强拉曼Surface-Enhanced Raman Scattering可以考虑！