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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 无机非金属 » 材料测试 » 询问怎样利用XRD测试计算晶胞参数
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TiNceramic

[交流] 询问怎样利用XRD测试计算晶胞参数

想精确测定晶胞参数，做xrd时应该怎么做？一般的xrd设备都可以么？一定要用Si粉作为内标？熟悉的虫虫详细解释下哈
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1楼 2007-05-13 08:16:07
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ywn

木虫 (小有名气)
有做过的虫虫上来讲讲,大家一起学习一下!
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2楼2007-05-13 09:31:33
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TiNceramic

没人知道么？
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3楼2007-05-14 09:41:07
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niujingj

金虫 (小有名气)
我也想知道这个问题的答案，哪位大侠赐教啊？
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4楼2007-05-14 19:07:45
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ziyouji

新虫 (初入文坛)
一般的设备就可以吧，也不用内标，我都是这个法来的，也不知道准不准
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5楼2007-05-14 22:00:55
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TiNceramic

引用回帖:
Originally posted by ziyouji at 2007-5-14 10:00 PM:
一般的设备就可以吧，也不用内标，我都是这个法来的，也不知道准不准

这样肯定不标准啊
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6楼2007-05-15 08:02:18
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smartjack

木虫 (正式写手)
扫描得到数据，利用Ｒｉｅｔｖｅｌｄ方法精修即可得到晶胞参数，
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7楼2007-05-15 09:09:48
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megranate

木虫 (正式写手)
首先，测定晶胞参数的样品应该是纯相的，具有杂相会对测试结果产生影响。
   其次，要得到精确的晶胞参数，关键取决于得到高精度的θ值。通过加入内标及最小二乘法修正是一种方法。Pirum程序是利用最小二乘法修正来进行晶胞参数精密测定的Fortran程序，在已知近似晶胞参数的情况下，可利用Pirum程序对晶胞参数进行精密测定。
    另外，用si做外标也是可以的，因为si的衍射线位置是确定的，视它的变化对样品的测试结果做相应的变化即可。计算所选择的衍射线最好是比较尖锐的。
    普通的xrd衍射仪是可以做的，还有用Guinier－Hagg相机的
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8楼2007-05-15 09:40:14
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