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如何用origin实现测试信号对仪器响应的去卷积操作？？
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用FLS920测试了样品的荧光寿命（如图1），其中红点是测试信号（即样品荧光寿命），黑点是仪器响应函数（IRF）。红点和黑点的origin数据都有。 由于数据处理的需要，需要自行将测试信号（红点）对仪器响应函数（黑点）进行去卷积以求得实际的样品衰减信号（如果测过快衰减样品的朋友应该明白是什么意思）。 我在origin里面将红点和黑点的数据选中然后点击了analysis -> signal processing -> deconvolution -> open dialog(如图2)之后，出现对话框点了确定。但是却出不来应有的结果。请问各位高手应该如何用origin实现函数的去卷积操作？？？？  图1 荧光寿命  图2 origin中去卷积操作 [ Last edited by czx409 on 2012-7-12 at 15:40 ] |
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