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ycyican

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[求助] 测量频率对电滞回线测试的影响

最近测BFO薄膜的电滞回线，有几个关于测试机理的问题想请教高手

1. 对这种漏电流较大的样品，为什么测量频率越高，测得的最终（饱和）极化强度越小？

2. 测试过程中，极化值并不是在最大电压出最大，而是随着外加电场的增加先增加后减小，后期极化值的减小的原因是什么？与样品本身的漏电流有关吗？什么关系？

3. 在现有测量装置的基础上，有没有什么方法能帮助测量样品的饱和极化强度？

谢谢！

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1楼2012-06-17 09:22:10

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fly_feiyu

木虫 (小有名气)

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【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
ycyican: 金币+3, ★★★很有帮助 2012-06-18 00:26:15
蒋青松: 金币+1, 鼓励交流 2012-06-18 12:03:22

1 电畴的对外场的响应是需要时间的，一般铁电薄膜的测量频率比块体高，比如PZT陶瓷一般几赫兹甚至零点几个赫兹测量，但PZT薄膜一般在十几Hz甚至是上百Hz，原因是铁电薄膜有注入电荷的影响，提高频率能减弱这种影响。但是频率提高了，部分电畴跟不上电场，来不及翻转，因此造成极化强度减小。

2 出现这种现象主要是因为材料漏导大，表面电荷保持不住。

3 一般测试电滞回线用的是三角波，你可以用脉冲波测试，做一下相对比较。

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2楼2012-06-17 23:21:36

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ycyican

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引用回帖:

2楼: Originally posted by fly_feiyu at 2012-06-17 23:21:36
1 电畴的对外场的响应是需要时间的，一般铁电薄膜的测量频率比块体高，比如PZT陶瓷一般几赫兹甚至零点几个赫兹测量，但PZT薄膜一般在十几Hz甚至是上百Hz，原因是铁电薄膜有注入电荷的影响，提高频率能减弱这种影响。 ...

谢谢啦！

你说的铁电薄膜的注入电荷是指什么呢？对应的英文是什么？谢谢了哈~~