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keyousha铜虫 (初入文坛)
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金币不够，哪位大哥哥大姐姐好心人白富美高帅富给俺翻一个东西啊，好人一生平安啊
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摘 要 电子显微学和电子显微镜技术对科学技术和社会生产力的发展起着巨大的推动作用，这一点已经得到了全球科技界的广泛承认，高分辨透射电子显微已经成为测试精度最高的纳米尺度测量工具。本文主要介绍了高分辨电子显微学的发展及电子显微图像分析方法的比较研究，对于高分辨透射电子显微图像的算法大体上可以分为两类：一种是实空间检测峰值强度的峰值点对算法，还有就是傅里叶空间的几何相位方法。在本文中，我们介绍了一种实空间处理方法，峰值点对算法，它是基于检测在基准面上一对强度极大值的仿射变化。尽管这是一种实空间算法，但峰值点对算法很适用于一些带有缺陷的部位。因此，这种方法适合在实空间获得应变场映射绘图。几何相位分析法是一种基于透射电子显微镜的高精度纳米尺度实验力学分析方法，它的测量灵敏度可达到原子水平。通过两种不同方法的比较，可以对电子显微图像分析方法有进一步的了解。我们认为这两种算法，在应变测定方面是很有用的，两种方法都有各自不同的优点和不足，在对电子显微图像分析过程中，它们应该被视为两种互补的工具。 关键词：高分辨透射电子显微镜；图像处理；几何相位法 |
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Abstract Electron microscopy and electron microscopy techniques of science and technology and the development of social productivity plays a huge role in promoting, it has been widely recognized by the global scientific community, the high-resolution transmission electron microscopy has become the highest test accuracy of nano-scale measurement tools. In this paper, the comparative study of the development of high-resolution electron microscopy and electronic microscopy image analysis methods for high-resolution transmission electron microscopy image of the algorithm in general can be divided into two categories: one is to detect the peak strength of the real space the peak point of the geometric phase of the algorithm, there is the Fourier space. In this paper, we introduce a real space approach, the peak point of the algorithm, which is the affine change based on the detection of the intensity maxima of the datum. Although this is a real-space algorithm, but the peak point of the algorithm is applicable to some defective parts. Therefore, this method is suitable for the strain field mapping graphics in real space. Geometric phase analysis is an analytical method based on transmission electron microscopy, high-precision nanoscale experimental mechanics, the measurement sensitivity can be achieved at the atomic level. By comparing the two different methods, can have a better understanding of electron microscopy image analysis methods. We believe that these two algorithms, and is useful in the determination of strain, both methods have their own different strengths and weaknesses in the process of electron microscopy image analysis, they should be regarded as two complementary tools. Key words: high-resolution transmission electron microscopy; image processing; geometric phase method感觉红啊的话，就送朵花吧。不用给金币。嘿嘿 |
2楼2012-05-30 22:12:49
keyousha
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