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fjfuzhou

金虫 (小有名气)

[交流] XAFS

XAFS拟合R空间中怎样区分第一、第二、第三、第四配位壳层,还有就是在Artemis中拟合区间R的范围怎么确定，拟合曲线和实际曲线不符时改变参数有什么技巧？

[ Last edited by fjfuzhou on 2012-5-24 at 08:56 ]
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1楼 2012-05-24 08:43:13
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iamikaruk

木虫 (著名写手)
★
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引用回帖:
3楼: Originally posted by fjfuzhou at 2012-05-24 10:36:49:
是啊

这个比较复杂啊，最好给你做同步辐射的人分析
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4楼2012-05-24 13:10:18
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iamikaruk

木虫 (著名写手)
你要做广延精细结构？
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2楼2012-05-24 09:20:12
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fjfuzhou

金虫 (小有名气)
???????:
4?: Originally posted by iamikaruk at 2012-05-24 13:10:18:
?????????????????????????????????

那你有什么??验???
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5楼2012-05-25 09:46:31
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zsl_321123

铁虫 (正式写手)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
XAFS分析的时候，关于第一、第二、第三、第四配位壳层的问题，我认为应该如下分析

首先从XAFS的功能上看，是表征样品的局域结构信息的，局域结构，一般是关注第一，第二配位层的问题。

其次我们测试的时候，一般知道样品里面含有什么元素，如测试ZnO样品Zn的R空间数据，第一配位壳层应该是Zn-O，第二配位层是Zn-Zn。

当然如果测试的样品中含有多个元素，应该牵涉到更多的配位层，但是应该根据一些常识结合一些已有的数据，如纯的晶体结构来判断，并结合XAFS的数据基本上能给出配位壳层的信息。

R范围应该不易过大，一般10个埃以下就可以了，本身分析的就是局域结构信息。

数据不一定非得拟合，直接对比也能看到很多有用的信息。

处理XAFS要反复操作该软件，对设置依赖性很强。不清楚就发帖子，大家讨论。

个人建议，仅作参考。
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6楼2012-07-27 13:29:11
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