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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 原子力显微镜
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yanyan-0518

金虫 (正式写手)

[求助] 原子力显微镜

CdS复合薄膜的原子力显微镜测试结果为平均粒径19.615 nm，Rq值2.192，平均粒径能说明什么问题？Rq值是均方根粗糙度吗？这个能说明什么问题？
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1楼 2012-03-21 09:16:33
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dingding131

铜虫 (初入文坛)

【答案】应助回帖

★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★ ★
感谢参与，应助指数 +1
金光闪闪2010: 金币+1, Thank you for you adivice 2012-03-21 12:17:07
yanyan-0518: 金币+15, ★★★很有帮助 2012-03-21 12:39:46
平均粒径不能说明什么问题，因为AFM只能精确测量高度方向的数值，水平方向要考虑针尖效应，测定结果自然不准确。Rq的大小表示了薄膜样品的平整情况，自然是越小越平整。
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2楼2012-03-21 10:57:19
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songsongsong443

铁杆木虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

★
感谢参与，应助指数 +1
xiejf: 金币+1, 鼓励交流 2012-03-22 00:04:22
楼上分析很到位，均方根粗糙度是RMS。平均粒径的大小和你选择的参考高度也有关。高度高了有的起伏就不计算为颗粒了。
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候补中年人
3楼2012-03-21 14:48:42
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yanyan-0518

金虫 (正式写手)
引用回帖:
3楼: Originally posted by songsongsong443 at 2012-03-21 14:48:42:
楼上分析很到位，均方根粗糙度是RMS。平均粒径的大小和你选择的参考高度也有关。高度高了有的起伏就不计算为颗粒了。

那Rq值是什么意思？
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4楼2012-03-21 23:40:40
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park841

金虫 (正式写手)

【答案】应助回帖

对AFM图像粗糙度的计算至少有两种算法，一种是Ra，算术平均粗糙度，另一种是Rq，均方根粗糙度，这两种算法大同小异，一般情况下在写论文的时候使用其中一种就足够了。
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5楼2013-05-14 17:25:49
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