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hotmail45金虫 (著名写手)
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如何测定修饰电极的膜厚度？
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| 第一次做修饰电极，不知道怎么测修饰电极的膜厚度，不要破坏膜和电极。我的电极长约6cm，直径为8mm。还望大家指教。 |
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2楼2007-03-17 13:02:26
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3楼2007-03-17 13:04:59
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磺巯嘌呤钠(AT-1438)极易溶于水,且其药效部位为阴离子,便于采用阳离子聚合物（聚吡咯）离子键合法进行控制释放。我们选用与AT-1438分子量相近的对甲苯磺酸钠（NaToS）作为聚吡咯的支持电解质，以增大膜的表面积与孔径，从而增大AT-1438的负载量。 聚吡咯（PPy/ToS）修饰电极由恒电位聚合而得。电解液为0.1 mol//L 吡咯和0.1 mol/L NaToS的水溶液，聚合电位+0.6V,聚合前通氮20 min.,以除去溶液中的氧。膜厚由聚合过程中通过的电量来计算。http://www.37c.com.cn/literature ... ml?tmp=8.220851E-03 聚合后，电极在0.1 mol/L NaCl溶液中于-1.0～+0.6V内扫描进行预处理，直至得到稳定循环伏安图，使Cl-尽可能与膜中ToS- 交换。然后将电位置于-0.6V直到电流减小到稳定值（约几个μA）, 使膜中Cl-尽可能逸出。再将洗净的电极移入0.1 mol/L AT-1438水溶液中,在+0.6V电位下，使AT-1438掺入膜内。二次蒸馏水彻底冲洗电极后，在0.1 mol/L NaCl溶液中，控制电位为-0.6V以释放AT-1438。释放液中AT-1438浓度由紫外-可见光谱法进行测定，其最大吸收波长为287 nm 。 |
4楼2007-03-17 13:07:26
5楼2007-03-17 15:35:28
zhangdapeng
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7楼2007-03-18 08:25:34
8楼2008-01-18 09:02:53
薄膜很厚吗？
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预计膜比较薄（几十纳米至1微米）的话， 适合做光学法的膜厚测量, 基于光干涉法的表面轮廓仪Surface profiler （surface profiler， 例如DEKTAK suface profiler system，surface profiler TENCOR P-10） Advanced 3D Profilometers www.nanovea.com Optical, Non Contact and Fast Instrument Manufacturer / Lab Serv. 3D Surface Profilometer www.ZYGO.com Definitive Noncontact Measurement & Analysis; Subnanometer Z-Resolution 名称：反射膜厚仪) 类型：光学测量 对象：测量透明非金属膜厚度 应用机台举例：Nanospec 180系列 名称：椭偏膜厚仪 类型：光学测量 对象：测量透明非金属膜厚度 备注：可以测量很薄的膜层（相对反射仪） 应用机台举例：rodulph AutoEL 名称：四探针测厚仪 类型：电性测量 对象：测量金属膜厚 名称：Profiler形貌测量 类型：光学测量 对象：测量表面形貌。 应用机台举例：Dektak 3030 Surface Profiler 膜比较厚的话，可以考虑做截面的高分辨扫描电子显微镜照片 |
9楼2008-01-20 18:43:47
