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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 请教冷场S4800的成分分析问题
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busy5

银虫 (正式写手)

[交流] 请教冷场S4800的成分分析问题

1. 在进行EDS分析中，可以在SEM图上进行选区分析，能谱仪是如何控制电子束进行选区分析的呀。选一个点进行分析时，电子书应该不只是打在那个点上，影响区最小是多少呢，而选一个区域进行分析时，电子束是否要进行扫描呀。
2.进行点分析时，点击查看影响区，从里到外好4个圆，都表示什么意思？中间有个黄色田子区，之外两个蓝色小圆，再就是一个黄色实圆，最后一个黄色虚圆，每个区域的电子束估计都是有一定百分比的，希望知道确切点数值
3. 进行成分分析时，电子束的测试深度是多少呢？我做的是稀土永磁材料

[ Last edited by busy5 on 2012-2-28 at 19:57 ]
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1楼 2012-02-28 19:55:09
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busy5

银虫 (正式写手)
引用回帖:
楼: Originally posted by linyouhui at 2012-02-28 20:52:31:
顶一下  只知道这样测不是很准 只是测个大概 不同区域拍出来不一样

的确是有些误差
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4楼2012-02-29 17:41:57
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temedx

专家顾问 (著名写手)
★
busy5(金币+1):谢谢参与
xjajx(金币+1): 2012-02-29 09:39:57
busy5(金币+1): 再奖励一分 2012-02-29 17:41:21
1. 3范围是电子束斑大小，但电子束有影响深度，一般是3-5 微米。
2. 不明白，最近很少用SEM的EDS了，是啥型号的EDS？
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2楼2012-02-28 20:04:52
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linyouhui

铜虫 (著名写手)
★
busy5(金币+1):谢谢参与
顶一下  只知道这样测不是很准 只是测个大概 不同区域拍出来不一样
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3楼2012-02-28 20:52:31
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xiaoj9663

铁杆木虫 (职业作家)
★
busy5(金币+1):谢谢参与
这个真不知道，只能友情帮顶了
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5楼2012-02-29 19:07:58
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