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200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)
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合成的颗粒在SEM下观察大概有200nm左右,想做TEM考察是否有二次粒子团聚,请问这样的粒子可以直接做TEM吗?最制样有什么特殊要求没? 感谢各位的热心回答。 另外还有个问题。今天去照了高倍的SEM,发现粒子原来是八面体去掉大半顶角的那种规则形状。因为粘在导电胶的粒子不是那种完全平铺的,所以只能估算厚度和边长。所以想请教各位有什么好办法能让这种粒子完全平铺或站立,以便更精确测量粒子的厚度及边长呢? [ Last edited by nierfu on 2012-1-17 at 18:56 ] |
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8楼2012-01-16 15:19:22
xiejf
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2楼2012-01-15 16:28:06
3楼2012-01-15 19:24:46
4楼2012-01-15 22:22:00









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