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nierfu

铁杆木虫 (正式写手)


[交流] 200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)

合成的颗粒在SEM下观察大概有200nm左右,想做TEM考察是否有二次粒子团聚,请问这样的粒子可以直接做TEM吗?最制样有什么特殊要求没?

感谢各位的热心回答。
另外还有个问题。今天去照了高倍的SEM,发现粒子原来是八面体去掉大半顶角的那种规则形状。因为粘在导电胶的粒子不是那种完全平铺的,所以只能估算厚度和边长。所以想请教各位有什么好办法能让这种粒子完全平铺或站立,以便更精确测量粒子的厚度及边长呢?

[ Last edited by nierfu on 2012-1-17 at 18:56 ]
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nierfu

铁杆木虫 (正式写手)


引用回帖:
: Originally posted by dasbrot at 2012-01-15 22:22:00:
应该没问题 如果是片的还好些 要是particles的话中间不一定能看到 找加速电压大点的镜子做吧

200KV的可以吗?
5楼2012-01-16 09:14:30
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查看全部 18 个回答

nierfu(金币+1):谢谢参与
没问题,可以得到比较好的结果
2楼2012-01-15 16:28:06
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Limestonest

新虫 (初入文坛)



nierfu(金币+1):谢谢参与
基本凑合,看边缘应该还行,用高电压(300KV以上)效果会更好。
3楼2012-01-15 19:24:46
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dasbrot

木虫 (小有名气)



nierfu(金币+1):谢谢参与
应该没问题 如果是片的还好些 要是particles的话中间不一定能看到 找加速电压大点的镜子做吧
4楼2012-01-15 22:22:00
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