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小木虫论坛-学术科研互动平台 » 材料区 » 微米和纳米 » 合成表征 » 200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)
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nierfu

铁杆木虫 (正式写手)

[交流] 200nm左右的粉末可以做TEM吗(补充)

合成的颗粒在SEM下观察大概有200nm左右，想做TEM考察是否有二次粒子团聚，请问这样的粒子可以直接做TEM吗？最制样有什么特殊要求没？

感谢各位的热心回答。
另外还有个问题。今天去照了高倍的SEM，发现粒子原来是八面体去掉大半顶角的那种规则形状。因为粘在导电胶的粒子不是那种完全平铺的，所以只能估算厚度和边长。所以想请教各位有什么好办法能让这种粒子完全平铺或站立，以便更精确测量粒子的厚度及边长呢？

[ Last edited by nierfu on 2012-1-17 at 18:56 ]
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1楼 2012-01-15 16:26:40
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taofei

捐助贵宾 (正式写手)
★
nierfu(金币+1):谢谢参与
多少纳米的都可以做，只是你这200多纳米有点厚了，电子衍射打不透，高分辨也看不清晶格，只能看看形貌了，如果你的要求仅限于这个，那就可以
赞一下(1人) 回复此楼
7楼2012-01-16 11:23:49
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