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一块状材料如何测他在不同方向上的电导率
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zjj495603179
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一块状材料如何测他在不同方向上的电导率
一块状材料如何测他在不同方向上的电导率?样品不能压片的。
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1楼
2011-12-20 20:29:48
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zjj495603179
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2楼
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Originally posted by
qiaozhi8702
at 2011-12-20 20:34:13:
有四叉或三叉电阻率仪可以测量块状材料的电阻率,各个方向都可以测,以前我测过块状的C/C复合材料
有没有具体的说明和测法啊?比如块状材料的体积的大小对电导率(或者电阻率)没有影响吧?
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3楼
2011-12-20 21:01:56
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qiaozhi8702
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yuquanyao(金币+1): 鼓励交流~ 2011-12-20 20:51:12
zjj495603179(金币+2): 2011-12-20 21:02:06
有四叉或三叉电阻率仪可以测量块状材料的电阻率,各个方向都可以测,以前我测过块状的C/C复合材料
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碳是基础,多学习,多听报告,多交流!
2楼
2011-12-20 20:34:13
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qiaozhi8702
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3楼
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Originally posted by
zjj495603179
at 2011-12-20 21:01:56:
有没有具体的说明和测法啊?比如块状材料的体积的大小对电导率(或者电阻率)没有影响吧?
四探头法测量分为:
1)块状和棒状样品体电阻率的测量
2)薄片电阻率测量
3)扩散层薄层电阻(方块电阻,半导体)测量
4)薄层电阻率
如果是块状的应该采用第一种测量方法,根据样品的不同的厚度,有一定的调节参数,例如参数K(厚度修正系数),其中有个表可以查出。还有调定对应的电流电压量程,这都是测量仪的常规参数。不同的电阻率仪也不同。
工作原理你去网上搜吧,四探针法
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碳是基础,多学习,多听报告,多交流!
4楼
2011-12-20 21:25:14
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