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博弈5321

新虫 (初入文坛)

[求助] XRD分析

本人制备掺杂氧化锌夹铜的透明导电膜后,对其进行了XRD测试,但是测试结果显示只有ZnO的峰,没有Cu的衍射峰,但是测试电阻率确实比较低,然后退火后也确实出现了Cu比较弱的衍射峰,请问我在写文章时,该如何分析?

XRD
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496499974

金虫 (小有名气)

请问楼主关注它的什么性质呢
2楼2011-12-20 10:45:50
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spyan581

木虫 (著名写手)

欣星赏月

【答案】应助回帖

★ ★
感谢参与,应助指数 +1
博弈5321(金币+2): ★★★很有帮助 2011-12-20 21:20:36
nono2009: 回帖置顶 2011-12-22 07:48:54
nono2009(金币+2): 鼓励应助 2011-12-22 07:49:09
你是采用什么工艺或方法制备的膜层。在150℃时晶化相对好些,可能是Cu的含量低或未能达到Cu的晶化条件,更大可能是分散而未能晶化。因为看不出Cu的信息。有条件可作成分测量如XPS.
与君共学共进
3楼2011-12-20 11:07:02
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feiepeng

金虫 (小有名气)

【答案】应助回帖


感谢参与,应助指数 +1
nono2009(金币+1): 鼓励应助 2011-12-22 07:49:27
没有Cu峰才对,那说明实掺杂,是掺Cu的ZnO薄膜,有了,说明是两种物质。这种就不能说是掺杂的透明导电膜了。
至于原因,就不好说了,不知道你退火的温度、气氛和时间所有的事情都很难说
roc
4楼2011-12-20 12:01:27
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博弈5321

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
: Originally posted by 496499974 at 2011-12-20 10:45:50:
请问楼主关注它的什么性质呢

我主要关注的是它的透明导电特性,而其透明导电特性确实比单层掺杂氧化锌的性能要好,但是现在就是检测不到Cu的衍射峰
5楼2011-12-20 21:15:33
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博弈5321

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
: Originally posted by feiepeng at 2011-12-20 12:01:27:
没有Cu峰才对,那说明实掺杂,是掺Cu的ZnO薄膜,有了,说明是两种物质。这种就不能说是掺杂的透明导电膜了。
至于原因,就不好说了,不知道你退火的温度、气氛和时间所有的事情都很难说

谢谢您的建议,我用的不是掺Cu的ZnO,我用的是掺Al的ZnO
6楼2011-12-20 21:19:02
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博弈5321

新虫 (初入文坛)

引用回帖:
: Originally posted by spyan581 at 2011-12-20 11:07:02:
你是采用什么工艺或方法制备的膜层。在150℃时晶化相对好些,可能是Cu的含量低或未能达到Cu的晶化条件,更大可能是分散而未能晶化。因为看不出Cu的信息。有条件可作成分测量如XPS.

谢谢,我这个实验做了挺久了,当时没有意识到这个问题,我估计现在这个样品早就已经变了,所以需要重新实验了,不过还是谢谢了。
7楼2011-12-20 21:20:05
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bqian1

木虫 (著名写手)

掺杂后,如果成相,晶格常数也许会发生改变,峰位就会偏移,建议先做EDS,再比较XRD峰位变化,求出晶格常数,确认是否成相。
8楼2011-12-21 05:45:05
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feiepeng

金虫 (小有名气)

我就说嘛,透明导电膜应该是AZO,怎么会掺Cu呢。
AZO中有Cu的峰,那就更不对了,说明生长时有污染,没有的话是对的,AZO薄膜的透明导电性一般都是很好的,
roc
9楼2011-12-21 08:43:13
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