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huxin_526

银虫 (小有名气)

[求助] SEM测试问题

我现在培养了一种晶体，想通过SEM观察它的结构，但经过SEM的前处理后，晶体都裂开了，由完整的片状变成了一些小碎片，而导致无法观察。后来发现这种晶体的DSC分析图在六十度会有一吸热峰，就是说在60℃可能会有结构变化，但小于六十度，SEM的前处理又会有问题。请大家帮我想想，怎样处理才能得到它的微观结构？难道小于六十度处理，SEM图像可以也进行吗？
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1楼 2011-10-08 19:43:01
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COXEM

捐助贵宾 (正式写手)

北京驰奔仪器有限公司- G.M &


引用回帖:
3楼: Originally posted by huxin_526 at 2011-10-09 08:44:59:
太感谢了！用这三种方法处理，会不会延长前处理时间啊？我的样品最好再两个小时内测试

如果你们跟前有闲置的电镜，包括喷金在内，半小时之内应该可以完成几个特征点的仔细观察，并存储照片。
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4楼2011-10-09 09:26:45
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COXEM

捐助贵宾 (正式写手)

北京驰奔仪器有限公司- G.M &


【答案】应助回帖

huxin_526(金币+8): 对我目前实验很有用 2011-10-09 08:40:14
SEM前处理只有在喷金和喷碳的时候，样品表面可能需要经受超过100摄氏度的高温。
当前有多种方法能够避免样品热损伤问题：
1、采用低真空或者环境真空模式来观察非导电样品。低真空会散射入射电子，降低图像信噪比，进而影响分辨能力。
2、以采用低电压，大角度倾斜样品来可以免喷金或者蒸镀导电膜，但低电压会降低电子光学分辨能力。
3、采用冷阴极磁控溅射，可以实现常温溅射金属膜。可以获得良好分辨。

采用什么方法，关键看分辨率要求！
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2楼2011-10-08 23:06:25
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huxin_526

银虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by COXEM at 2011-10-08 23:06:25:
SEM前处理只有在喷金和喷碳的时候，样品表面可能需要经受超过100摄氏度的高温。
当前有多种方法能够避免样品热损伤问题：
1、采用低真空或者环境真空模式来观察非导电样品。低真空会散射入射电子，降低图像信噪 ...

太感谢了！用这三种方法处理，会不会延长前处理时间啊？我的样品最好再两个小时内测试
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3楼2011-10-09 08:44:59
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