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各位有没有XRD,TEM,SEM,DRS和XPS的原理的详细介绍呢？
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各位有没有XRD,TEM,SEM,DRS和XPS的原理的详细介绍呢？ 不要给我书本 可以是课件，或者是文档 谢谢 每个5金币哦 谢谢 另外5个给有缘人 哈哈 谢谢了 |
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seekerboy
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sima022225(金币+10):谢谢
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给你上传了我手头的几个资料，希望你喜欢 你去看看吧 http://free.ys168.com/?seekerboy2 XRD培训班--仪器原理(复旦马礼敦老师的.pdf 1.1MB 电子衍射谱标定.pdf 0.5MB 透射电子显微镜讲义.pdf 0.3MB XRD and XPS.ppt 1.5MB 粉末衍射解析结构的方法.doc 0.4MB X射线衍射运动学理论.ppt 0.7MB 这里还有各种电镜操作手册下载！http://muchong.com/html/200604/221305.html 还的扫描电镜扫盲，嘿嘿，去看看吧。http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20060118/328021/ [ Last edited by seekerboy on 2006-12-8 at 01:04 ] |
2楼2006-12-08 00:11:50
hezhi200512
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sima022225(金币+2):这个我也搜索到了的
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http://www.instrument.com.cn/show/download/shtml/031777.shtml 1.XRD可以做定性,定量分析.即可以分析合金里面的相成分和含量,可以测定晶格参数,可以测定织构方向,含量,可以测定材料的内应力,材料晶体的大小等等,好多好多.不过一般主要是用来分析合金里面的相成分和含量. 2，XRD对样品有什么要求？XRD对样品的要求根据你的测定分析要求而不同,最好自己去买本相关的书看看,建议你看李树堂先生编的,我认为可能是国内最好的关于XRD的书.也有实验操作,样品制作的. MSD-1瞬变电磁仪是应用近年来迅速发展起来的时间域电磁法(或称瞬变电磁法,TEM)进行地质勘探的仪器。其应用范围涉及地矿、石油、水利、电力、铁道、公路交通、有色、国防工程等各个领域，并且取得了显著效果。它在基岩裸露、水泥地面、沙漠、冻土及水面上均可进行探测。可有效地勘查河床覆盖层厚度；较准确地划分地层结构与隐伏构造；适用于中、浅部地下水勘查和地热水源的调查；圈定和监测地下水污染；煤矿采空区探测；也可用于堤坝隐患和渠道、水库渗漏等方面的应用。 MSD-1瞬变电磁仪的基本原理是：利用不接地回线或接地线源向地下发送一次脉冲磁场，在一次脉冲磁场的间歇期间，用线圈或接地电极观测二次涡流场的方法，以取得地质构造数据。MSD-1瞬变电磁仪采用高精度宽带程控运算放大器、高速十六位模数转换器、高速双口随机存储器等进口先进器件，并利用双极性同步采样、对工频相干采样、弱信号多点平均、信号迭加、瞬态干扰剔除等多种数据处理方法，以获取良好的勘探数据。MSD-1瞬变电磁仪收发一体化，轻便小型，特别适于中浅层工程勘察及构造研究等现场使用。对于JEOL电镜，应在EDS的模式下做EDS分析，而且最好倾转20度， 特别所测的样品含量低。因为在那种条件下，探头的能更好的采集信号。 http://www.yinjin.cn/study/volume-DRS.htm XRD：X射线衍射 原理： X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线 和特征X射线两种。 晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的原子或离子/分子所产生的相干散射将会发生 光的干涉作用，从而影响散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量原子散射波的叠加， 互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。 满足衍射条件，可应用布拉格公式：应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出 晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算 出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。 方法：测定X射线衍射的方法主要有两类，一是粉末法，二是单晶旋转法。 粉末法，是利用单色化的X射线被多晶粉末试样衍射的结果，从衍射图测量衍射相片 线条的位置和相对强度，从而确定试样的化学组成和结晶状态。样品必须是结晶的粉末 ，所需试样量少，试样不被破坏，广泛应用于多晶物质混合物的物相分析。如晶体鉴定 ，对同一物质的不同晶状，含水物与无水物以及结晶水不同的化合物都可进行鉴定。` 目的：测定晶体结构和某些结晶性质。 XPS：X射线电子能谱 原理：用X射线照射样品，使样品中原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些电子的 能量分布，从中获得所需元素和结构方面的信息。由于它十分广泛应用于化学分析，所 以也称之为化学分析电子能谱（ESCA）。 X射线使电子从原子中某能级发射出来，这一过程为光电离，其服从爱因斯坦关系式 ，但这种能量关系只是在能量不损失的情况下才成立。对于高分子固态样品（不能用溶 液，因为溶剂分子会干扰测定），只有在表面非常薄的一层（约2nm）上才允许电子离开 而不损失能量。因此，XPS只适用于研究高分子材料的表面。 应用：高分子材料表面的元素成分分析 化学位移和高分子材料的定性鉴别 共聚组成的定量分析 |
3楼2006-12-08 08:50:23
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