| ²é¿´: 595 | »Ø¸´: 2 | |||
huishirleyľ³æ (СÓÐÃûÆø)
|
[ÇóÖú]
ÇóÖú´ó¼ÒÒ»¸öÎÊÌâ
|
| ÇëÎʸ÷λÅóÓÑÖªµÀIEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITYÕâ¸öÆÚ¿¯µÄËõд²»,лл´ó¼Ò! |
» ²ÂÄãϲ»¶
ÍÁľˮÀûר˶276·ÖÇóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ9È˻ظ´
328Çóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ16È˻ظ´
»¯Ñ§¹¤³Ìµ÷¼Á289
ÒѾÓÐ26È˻ظ´
331Çóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ3È˻ظ´
²ÄÁÏÓ뻯¹¤×¨Ë¶306·ÖÕÒºÏÊʵ÷¼Á
ÒѾÓÐ24È˻ظ´
²ÄÁϹ¤³Ìµ÷¼Á
ÒѾÓÐ8È˻ظ´
070300»¯Ñ§279Çóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ7È˻ظ´
²ÄÁÏר˶µ÷¼Á
ÒѾÓÐ14È˻ظ´
334Çóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ7È˻ظ´
²ÄÁϹ¤³Ì085601£¬270Çóµ÷¼Á
ÒѾÓÐ10È˻ظ´
visitor958
ÖÁ×ðľ³æ (ÎÄ̳¾«Ó¢)
IEEEÔÓÖ¾Óë»áÒéר¼Ò
- Ó¦Öú: 2283 (½²Ê¦)
- ¹ó±ö: 0.05
- ½ð±Ò: 17310
- É¢½ð: 2544
- ºì»¨: 76
- Ìû×Ó: 15735
- ÔÚÏß: 2926.6Сʱ
- ³æºÅ: 489254
- ×¢²á: 2008-01-01
- רҵ: IEEE
¡¾´ð°¸¡¿Ó¦Öú»ØÌû
¡ï ¡ï
liuyunme(½ð±Ò+2): Ó¦Öú½±Àø£¡ 2011-09-30 21:05:07
liuyunme(½ð±Ò+2): Ó¦Öú½±Àø£¡ 2011-09-30 21:05:07
|
IEEE Trans Device Mater Reliab IEEE T DEVICE MAT RE |
2Â¥2011-09-29 07:28:39
huishirley
ľ³æ (СÓÐÃûÆø)
- Ó¦Öú: 0 (Ó×¶ùÔ°)
- ½ð±Ò: 2901.5
- É¢½ð: 10
- ºì»¨: 1
- Ìû×Ó: 156
- ÔÚÏß: 38.5Сʱ
- ³æºÅ: 1062038
- ×¢²á: 2010-07-22
- רҵ: ½ðÊô²ÄÁÏ
3Â¥2016-02-25 16:14:22














»Ø¸´´ËÂ¥