8楼: Originally posted by yuewen_yang at 2011-09-25 17:02:55:
这样做会不会测得是导电玻璃的导电性啊

20楼: Originally posted by 祝雅娟 at 2011-11-30 16:38:31:
请问你是用什么方法把石墨烯做成薄膜的呢？

21楼: Originally posted by melyan at 2011-11-30 20:07:30:
我也是这样怀疑哦

1楼: Originally posted by yuewen_yang at 2011-09-18 16:03:05:
请求各位大侠
    本人采用旋涂法制备薄的石墨氧化物薄膜，还原后用四探针测方块电阻却测不出来，后来用抽滤转移的方法得到薄膜还原后也测不出来，只有很厚的才行，这是为什么啊，很多文献上都能测出来，为什么我 ...

22楼: Originally posted by pipi at 2011-12-02 09:25:57:
我们先抽滤然后转移到PET，玻璃之类的基底上。旋涂好像效果不好。直接培养皿里烘干也能成膜，不过比较厚，不好揭下来，揭下来形状不规则。

25楼: Originally posted by 祝雅娟 at 2011-12-02 13:37:14:
你的氧化石墨是用hummers法做的,然后还原的吗？我觉得啊，如果是直接这样做出来的膜，因为缝隙还是很多，虽然肉眼不可见，但是对电导率的影响挺大的

26楼: Originally posted by pipi at 2011-12-02 16:11:47:
用改性hummers法做的。然后还原。电阻还可以吧，百分之七八十的透过率，大概电阻在千欧级以下

27楼: Originally posted by 祝雅娟 at 2011-12-04 18:51:33:
这个我也不太清楚哦，不过师兄说不好用这个

1821370楼: Originally posted by lxuyan at 2011-09-24 22:46:55:
四探针的测试确实跟 薄膜的厚度，还是你测试的膜的位置的不同，值会有所不同的

你还可以用IV曲线法的测试仪器来测试电导率的

4186728楼: Originally posted by pipi at 2011-12-02 09:25:57:
我们先抽滤然后转移到PET，玻璃之类的基底上。旋涂好像效果不好。直接培养皿里烘干也能成膜，不过比较厚，不好揭下来，揭下来形状不规则。