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fengch

金虫 (小有名气)

[求助] 纳米Au颗粒的晶格间距变化问题

采用不同的方法制备的负载型的纳米金颗粒，高分辨TEM测得的晶格间距不一样，查资料Au（111）的晶格间距是0.235nm左右，而我的一个是0.240nm,另一个是0.229nm左右，这能说明什么？
是金颗粒粒径的变化造成的吗？
是的话，晶格间距变化随粒径的变化规律是什么？
希望有高人指点！谢谢！
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不要让自己太闲~
1楼2011-09-08 08:31:51
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bachier

金虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

★
金光闪闪2010(金币+1): 2011-09-09 17:20:35
fengch(金币+5): 2011-09-10 15:16:33
引用回帖:
3楼: Originally posted by fengch at 2011-09-09 07:56:56:
是不同的仪器测的，但是这个不会相差这么大吧，我再做一遍试试吧！如果晶格间距真是这样偏大或偏小了，能说明什么问题吗？

感觉如果单金属是存在较大缺陷的话，一般晶格间距不会有很大变动的，不同TEM测试是有很大差别的，这个你不用怀疑，而且你的差别也不算很大吧。TEM有的刚刚校正过，有的好长时间没校正，都会出现这种差别的，你最好用同一台透射电镜测试，感觉不会出现这种问题
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4楼2011-09-09 09:06:19
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bachier

金虫 (职业作家)

【答案】应助回帖

fengch(金币+4): 2011-09-09 07:57:32
是不是不同TEM测的，这个比较正常了
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2楼2011-09-08 13:20:20
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fengch

金虫 (小有名气)
引用回帖:
2楼: Originally posted by bachier at 2011-09-08 13:20:20:
是不是不同TEM测的，这个比较正常了

是不同的仪器测的，但是这个不会相差这么大吧，我再做一遍试试吧！如果晶格间距真是这样偏大或偏小了，能说明什么问题吗？
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不要让自己太闲~
3楼2011-09-09 07:56:56
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fengch

金虫 (小有名气)
引用回帖:
4楼: Originally posted by bachier at 2011-09-09 09:06:19:
感觉如果单金属是存在较大缺陷的话，一般晶格间距不会有很大变动的，不同TEM测试是有很大差别的，这个你不用怀疑，而且你的差别也不算很大吧。TEM有的刚刚校正过，有的好长时间没校正，都会出现这种差别的，你最 ...

它们是不同种方法制备的样品，粒径确实不一样大小。
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不要让自己太闲~
5楼2011-09-10 15:16:07
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