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【答案】应助回帖

justinzhao(金币+18): 明白了。谢谢专家!~ 2011-08-29 23:47:59
zhangwj(MN-EPI+1): thanks 2011-08-29 23:49:48
引用回帖:
3楼: Originally posted by justinzhao at 2011-08-29 18:25:56:
您说的机理我似懂非懂。是不是Al附近的这个斜坡,对每个样品都会有呢?或者是我的硅峰很强,所以才带来的现象?
为什么刚好在这个区间?在硅后面能量高的区域,基线很平。
非常感谢!!

我对能谱实践比较少,看过一些介绍。
这个背底的变化,需要理解韧制辐射变化规律

连续谱的强度,是靶材的原子序数和电子束能量的函数:
Icm ~   iZ[(λ/λmin)-1 ] ~  i Z(Eo-E)/E
                       Icm 连续X-RAY的强度,随电子束流 i 的增加而增加。
                                                        随平均原子序数的增加而增加
                                                        随着其能量E的增加而下降
                                                        随着电子束的能量Eo的增加而增加

从图中可以看到连续X射线的,在低能端虽然产额很高,但探测器的探测效率很低,随着能量提高,探测器探测效率提高,然后达到一个峰值,后随着连续X射线曲线降低。

6楼2011-08-29 21:45:53
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