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haode22

金虫 (正式写手)

[交流] SEM分析

这是最近做的一种材料的SEM，图1是图2的放大版。

有这样一个问题是：四方晶体在大晶表面形成，大晶体是六方结构的，小的四方晶粒与背部的大晶粒的组成元素一样，只是化学配比有较小的差异（由EDS谱得出）。我想进一步分析这些小晶粒的晶体结构，有什么办法？可以看出这些小晶粒的尺寸只有2-3um。当然最先想到的是TEM，但是制样似乎很困难。有没有经验人士指点一下啊！！！
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1楼 2011-08-19 20:59:46
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COXEM

捐助贵宾 (正式写手)
★
haode22(金币+1):谢谢参与
haode22(金币+5): 非常感谢您的回复 2011-08-22 11:22:12
ECP 电子通道花样似乎可以解决您的问题，但本人没用过。不过文献还是很多，可以查阅。
一般扫描电镜不带这个附件，属于选购的。
ECP和EBSD电子背散射衍射有点不同，只能标定一个点，后者可以对一个面进行标定，现在的技术每秒可以标定600点。
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4楼2011-08-22 09:04:58
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haode22

金虫 (正式写手)
不得哦！！！等待高人啊
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2楼2011-08-20 19:42:01
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waiwaide

至尊木虫 (职业作家)
★
小木虫: 金币+0.5, 给个红包，谢谢回帖
用TEM照射立方体（尺寸小的）的边缘即可得到衍射花样。
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5楼2014-04-28 20:41:35
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